Khi chùm ion Ar được tăng tốc và quét qua bề mặt mẫu trong môi trường chân không sẽ tách các ion trên bề mặt mẫu cần đánh bóng.
Việc sử dụng chùm ion để đánh bóng mẫu đảm bảo độ bóng - nhẵn rất cao, ko làm ảnh hưởng tới bề mặt mẫu do nhiệt độ sinh ra bởi cách đánh bóng thông thường
CP-8000 thích hợp để chuẩn bị mặt cắt sạch cho các thiết bị đo lường như SEM, EDS, EBSD, WDS và v.v.
Các tính năng nổi bật CP-8000
-
Đánh bóng không gây hư hại: Quá trình sử dụng chùm ion diễn ra ở cấp độ nguyên tử, giúp tránh làm biến dạng cấu trúc mẫu, nứt, vỡ hay các hư hỏng hóa học.
-
Tốc độ ăn mòn cao: Thiết bị có tốc độ ăn mòn lên tới 700 μm/giờ (đối với mẫu Silicon ở 8 kV), giúp chuẩn bị mẫu nhanh chóng và hiệu quả.
-
Hỗ trợ đo lường: Tích hợp camera bên trong buồng và một kính hiển vi kỹ thuật số giúp căn chỉnh mẫu vật dễ dàng và quan sát quá trình ăn mòn theo thời gian thực.
-
Tùy chỉnh linh hoạt: Có khả năng lưu/tải các công thức ăn mòn thường dùng và điều chỉnh điện áp chùm ion từ 2 đến 8 kV để phù hợp với nhiều loại vật liệu khác nhau.
-
Giao diện trực quan: Hệ thống được điều khiển qua màn hình cảm ứng, giúp người dùng thao tác đơn giản và tiện lợi.
Các sản phẩm ứng dụng:
Máy đánh bóng mặt cắt ngang CP-8000+ đóng vai trò then chốt trong nhiều ngành công nghiệp và lĩnh vực nghiên cứu, đặc biệt là trong việc chuẩn bị mẫu cho các phương pháp phân tích sau:
-
Phân tích bằng SEM (Kính hiển vi điện tử quét): Chuẩn bị bề mặt mẫu sạch để quan sát cấu trúc vi mô với độ phân giải cao.
-
Phân tích EDS (Phổ tán sắc năng lượng tia X): Giúp quan sát phân bố thành phần hóa học trên bề mặt mẫu mà không bị ảnh hưởng bởi biến dạng cấu trúc.
-
Phân tích EBSD (Nhiễu xạ điện tử ngược): Chuẩn bị bề mặt mẫu không biến dạng để phân tích định hướng tinh thể của vật liệu.
-
Kiểm tra vật liệu đa lớp: Tạo mặt cắt ngang hoàn hảo của các vật liệu nhiều lớp như pin, tụ điện, và các linh kiện bán dẫn.
- Alloys Materials
- Semiconductors
- Ceramics
- Solar Cell...
Tên gọi khác: Máy đánh bóng SEM / Thiết bị chuẩn bị mẫu SEM / Thiết bị đánh bóng mẫu SEM
