Nikon ECLIPSE MA200 là một kính hiển vi soi ngược (inverted microscope) tiên tiến, được thiết kế đặc biệt cho việc kiểm tra vật liệu luyện kim và các ứng dụng công nghiệp khác. Với thiết kế hộp nhỏ gọn, mô-đun linh hoạt và hệ thống quang học chất lượng cao, MA200 là công cụ lý tưởng cho các phòng thí nghiệm nghiên cứu, phát triển và kiểm soát chất lượng trong nhiều ngành công nghiệp.
So với các kính hiển vi soi ngược truyền thống, ECLIPSE MA200 có kích thước nhỏ gọn hơn đáng kể, giúp tiết kiệm không gian và dễ dàng thao tác. Thiết kế soi ngược cho phép đặt các mẫu lớn, nặng và không bằng phẳng lên bàn soi một cách ổn định, trong khi vật kính quan sát từ phía dưới, tránh làm hỏng vật kính bởi các mẫu thô.
ECLIPSE MA200 tích hợp các công nghệ quang học và kỹ thuật số tiên tiến của Nikon để cung cấp hình ảnh chất lượng cao và khả năng phân tích mạnh mẽ.
Các đặc điểm nổi bật của Nikon ECLIPSE MA200:
Thiết kế soi ngược: Cho phép quan sát các mẫu lớn, nặng và không bằng phẳng dễ dàng bằng cách đặt chúng trực tiếp lên bàn soi. Vật kính được đặt bên dưới mẫu, nhìn lên.
Thiết kế hộp nhỏ gọn: Giảm đáng kể diện tích chiếm dụng so với các mẫu kính hiển vi soi ngược thông thường, giúp tối ưu không gian làm việc.
Quang học CFI60/CFI60-2: Sử dụng hệ thống quang học CFI60/CFI60-2 nổi tiếng của Nikon, cung cấp hình ảnh sắc nét, độ phân giải cao và trường nhìn phẳng trên toàn bộ dải phóng đại. Hệ thống này cho phép quan sát đồng nhất và rõ ràng ngay cả ở rìa trường nhìn.
Đa dạng phương pháp quan sát quang học:
Trường sáng (Brightfield - BF): Phương pháp quan sát cơ bản, hiển thị cấu trúc bề mặt.
Trường tối (Darkfield - DF): Làm nổi bật các khuyết tật nhỏ, hạt, vết xước trên bề mặt vật liệu bằng cách chiếu sáng gián tiếp.
Phân cực đơn giản (Simple Polarizing): Dùng để kiểm tra các vật liệu có tính chất lưỡng chiết (ví dụ: một số loại polymer, khoáng chất).
Tương phản giao thoa vi sai (DIC - Differential Interference Contrast): Biến đổi sự khác biệt rất nhỏ về độ cao hoặc mật độ trên bề mặt mẫu thành sự khác biệt về độ sáng, làm nổi bật cấu trúc bề mặt và độ nhám.
Huỳnh quang phản xạ (Epi-Fluorescence): Quan sát các vật liệu phát huỳnh quang khi được chiếu sáng bởi bước sóng cụ thể (tùy chọn khối lọc huỳnh quang B/G/V/BV).
Hệ thống chiếu sáng đồng nhất: Đảm bảo độ sáng đồng đều trên toàn trường nhìn, rất quan trọng cho việc chụp ảnh kỹ thuật số và ghép ảnh (stitching).
Tích hợp kỹ thuật số thông minh:
Kết nối camera Digital Sight Series: Tương thích với các camera dòng Digital Sight của Nikon, cho phép chụp ảnh và quay video chất lượng cao.
Phần mềm NIS-Elements: Tích hợp với phần mềm NIS-Elements để điều khiển kính hiển vi, chụp ảnh, xử lý và phân tích hình ảnh (ví dụ: đo kích thước hạt, phân tích hình thái than chì, ghép ảnh, mở rộng độ sâu trường ảnh).
Hiển thị trạng thái: Có khả năng hiển thị thông tin như độ phóng đại vật kính và điều kiện chiếu sáng, tự động cập nhật dữ liệu hiệu chuẩn khi thay đổi vật kính.
Thiết kế công thái học: Các nút điều khiển chính (như tay cầm bàn soi, mâm vật kính, điều khiển diaphragm) được bố trí ở phía trước, dễ dàng tiếp cận, giúp giảm mệt mỏi cho người vận hành.
Độ bền và ổn định cao: Cấu trúc vững chắc giúp giảm rung động trong quá trình quan sát ở độ phóng đại cao.
Ứng Dụng Chính Kính hiển vi soi ngược ECLIPSE MA200
Nikon ECLIPSE MA200 được sử dụng rộng rãi trong nhiều ngành công nghiệp để kiểm tra, phân tích và đảm bảo chất lượng vật liệu:
Luyện kim và Khoa học vật liệu:
Phân tích cấu trúc kim loại và hợp kim: Quan sát cấu trúc vi mô của thép, nhôm, đồng, hợp kim titan để đánh giá chất lượng, kiểm tra xử lý nhiệt, phát hiện các khuyết tật như vết nứt, rỗ khí, tạp chất.
Đo kích thước hạt (Grain Sizing): Xác định kích thước hạt của kim loại và hợp kim theo tiêu chuẩn ASTM hoặc JIS, quan trọng để đánh giá tính chất cơ học.
Phân tích gang (Cast Iron Analysis): Đánh giá hình dạng, kích thước, và sự phân bố của than chì (graphite nodules/flakes) trong gang để xác định cấp độ và tính chất của vật liệu.
Kiểm tra xử lý bề mặt: Đánh giá độ dày lớp phủ, xử lý nhiệt bề mặt, độ cứng vi mô.
Sản xuất Ô tô:
Kiểm tra chất lượng các chi tiết kim loại, hợp kim, vật liệu composite được sử dụng trong động cơ, khung gầm, bộ phận truyền động.
Công nghiệp Điện tử:
Kiểm tra bảng mạch in (PCB), linh kiện điện tử, mối hàn để tìm kiếm khuyết tật, lỗi sản xuất.
Phân tích vật liệu bán dẫn (mặc dù các kính hiển vi L300N/ND chuyên dụng hơn cho wafer).
Kiểm soát chất lượng và Phân tích lỗi:
Là công cụ không thể thiếu trong các phòng QC để kiểm tra nguyên vật liệu đầu vào và sản phẩm cuối cùng.
Phân tích nguyên nhân gây hỏng hóc hoặc lỗi của các bộ phận, linh kiện.
Công nghiệp Gốm sứ và Nhựa:
Kiểm tra cấu trúc vi mô, khuyết tật, và pha của các vật liệu gốm sứ, composite, và polymer.
Giáo dục và Nghiên cứu:
Là thiết bị tiêu chuẩn trong các trường đại học, viện nghiên cứu về vật liệu, luyện kim, kỹ thuật để giảng dạy và thực hiện các dự án nghiên cứu.
Specifications
Main body
Focusing mechanism
Focusing nosepiece (Fixed stage) Coaxial coarse/fine adjustment knob (torque adjustable)
Coarse adjustment of 4.0 mm per rotation, fine adjustment of 0.2 mm per rotation
Illumination
With flare prevention, Built-in UV cut filter
Field diaphragm: dialing continuous variable (centerable), Aperture diaphragm: dialing continuous variable (centerable)
Filter: Double turret (ND16, ND4/GIF, NCB, Additional option available), Polarizing block (Selectable with or without 1/4 Plate)
Fluorescence filter blocks: B/G/V/BV, Built in 12 V 50 W halogen lamp, C-HGFI HG Fiber Illuminator
Light distribution
Eyepiece tube/Back port: 100/0, 55/45
MA2-NUI5: Bright/Darkfield/ DIC 5 position nosepiece, LV-NU5A: Motorized Bright/Darkfield/DIC 5 position nosepiece
D-NID6: Brightfield 6 position nosepiece (Intelligent), D-NI7: Brightfield 7 position nosepiece (Intelligent)
Stage
MA-SR Rectangular 3-plate Stage
50 x 50 mm stroke (includes two stage inserts (ø20mm and 40mm opening) and coaxial control handle on the right side
Dimension: 295 x 215 mm, Stroke: 50 mm x 50 mm (with distance graduation), Standard accessory: ø22 universal specimen holder (with sample clip)
Trinocular eyepiece
Seidentopf, interpupillary distance adjustment 50-75 mm
Power input
100-240 V, 50-60 Hz
Electrical power consumption
1.2 A 75 W
Weight
Approx. 26 kg (depends on combination)
Option
Intermediate magnification
Turret (1x, 1.5x, 2x), Status detection (Output magnification information to main unit)
Scale
MA2-GR Grain Reticle (ASTM E112-63 grain sizing numbers 1 to 8), Grid Reticle (20 lines, 0.5 mm)
MA2-MR Scale Reticle (compatible with 5-100x, Read in um, Dialing System)
