Máy đo tọa độ 3 chiều NEXIV
> Máy đo tọa độ / đồng tiêu Nexiv VMF-K
Máy đo Nexiv VMF-K3040
Mã sản phẩm:
VMF-K3040
Nikon NEXIV VMZ-K3040 là một trong những model thuộc dòng máy đo tọa độ 3 chiều (CMM - Coordinate Measuring Machine) bằng hình ảnh kết hợp với khả năng đa cảm biến (Multi-sensor) của Nikon. Dòng "K" trong VMZ-K chỉ ra khả năng tích hợp nhiều loại đầu dò khác nhau, không chỉ dừng lại ở đo quang học, mà còn bao gồm cả đầu dò tiếp xúc (touch probe) hoặc các tùy chọn cảm biến khác.
VMZ-K3040 được thiết kế để giải quyết những thách thức đo lường phức tạp mà các máy đo quang học thuần túy khó có thể xử lý, mang lại sự linh hoạt và độ chính xác cao cho nhiều loại vật liệu và hình dạng chi tiết.
Nikon NEXIV VMZ-K3040 là một máy đo tọa độ tự động hoàn toàn, kết hợp các công nghệ đo lường quang học tiên tiến của Nikon với khả năng tích hợp linh hoạt các đầu dò tiếp xúc, tạo thành một hệ thống đa cảm biến mạnh mẽ:
Tính năng đa cảm biến (Multi-sensor Capability): Đây là điểm nổi bật nhất của dòng VMZ-K. Ngoài việc đo lường bằng hình ảnh (video/quang học), VMZ-K3040 có khả năng tích hợp:
Đầu dò tiếp xúc (Touch Probe): Phổ biến nhất là các đầu dò của Renishaw (ví dụ: TP20, TP200, SP25). Đầu dò tiếp xúc cho phép đo các đặc điểm 3D phức tạp, các bề mặt không nhìn thấy được bằng quang học (ví dụ: lỗ sâu, cạnh dưới), các vật liệu trong suốt hoặc có độ bóng cao gây khó khăn cho việc đo quang học, hoặc các chi tiết có dung sai rất chặt chẽ cần độ chính xác cao của phép đo tiếp xúc.
Tùy chọn khác: Một số cấu hình có thể tích hợp thêm các loại cảm biến laser đặc biệt hoặc các cảm biến khác tùy theo yêu cầu.
Vùng đo phù hợp và linh hoạt:
Hành trình đo (X, Y): 300 x 400 mm. Vùng này rất lý tưởng để đo các chi tiết có kích thước trung bình, hoặc nhiều chi tiết nhỏ được đặt trên một jig. Hành trình Y lớn hơn X giúp tối ưu cho các tấm dài hoặc nhiều hàng chi tiết.
Hành trình Z: 200 mm, đủ để đo các mẫu có chiều cao khác nhau.
Hệ thống quang học Nikon CFI60: Nền tảng quang học đã được khẳng định của Nikon, cung cấp hình ảnh sắc nét, độ tương phản cao và độ méo cực thấp. Các đầu zoom quang học được tối ưu hóa để phù hợp với cả đo quang học và hỗ trợ chuyển đổi sang chế độ đo tiếp xúc.
Tốc độ lấy nét tự động và độ chính xác:
Vision AF cải tiến: Lấy nét tự động bằng hình ảnh nhanh chóng và chính xác.
TTL Laser AF (tiêu chuẩn hoặc tùy chọn): Cung cấp khả năng lấy nét trục Z siêu nhanh và chính xác, đặc biệt quan trọng khi làm việc với các mẫu có bề mặt không đồng đều hoặc vật liệu khó.
Hệ thống chiếu sáng linh hoạt và thông minh:
Đèn LED trắng: Toàn bộ nguồn chiếu sáng đều sử dụng công nghệ LED trắng, mang lại sự ổn định, tuổi thọ cao và tiết kiệm năng lượng.
Chiếu sáng phản xạ (Episcopic): Đèn vòng LED 8 phân đoạn với 3 góc chiếu khác nhau, cho phép điều chỉnh ánh sáng từ nhiều hướng, giúp làm nổi bật các cạnh và bề mặt một cách tối ưu, ngay cả trên các chi tiết có cấu trúc 3D phức tạp hoặc bề mặt phản chiếu cao.
Chiếu sáng truyền qua (Diascopic): Cung cấp ánh sáng từ phía dưới mẫu, rất hiệu quả cho việc đo các chi tiết có lỗ, các bộ phận trong suốt hoặc bán trong suốt.
Phần mềm đo lường mạnh mẽ NEXIV AutoMeasure:
Giao diện người dùng trực quan: Cho phép người dùng dễ dàng lập trình các quy trình đo tự động, bao gồm cả việc chuyển đổi linh hoạt giữa các phương pháp đo quang học và tiếp xúc trong cùng một chương trình đo.
Công cụ đo lường toàn diện: Hỗ trợ đầy đủ các công cụ đo 2D, 3D. Phần mềm tự động quản lý dữ liệu từ cả hai cảm biến, tạo ra một mô hình 3D hoàn chỉnh của chi tiết.
Tích hợp CAD: Khả năng nhập dữ liệu CAD để so sánh trực tiếp giữa thiết kế và kết quả đo thực tế.
Tạo báo cáo chi tiết: Xuất báo cáo đo lường tùy chỉnh với các bảng biểu, đồ thị và hình ảnh.
Thiết kế bền vững và ổn định: Khung máy được chế tạo chắc chắn, giúp giảm thiểu ảnh hưởng của rung động từ môi trường và biến dạng nhiệt, đảm bảo độ ổn định và độ chính xác trong thời gian dài vận hành.
Ứng Dụng NEXIV VMZ-K3040
Nikon NEXIV VMZ-K3040 là giải pháp lý tưởng cho các ngành công nghiệp và ứng dụng đòi hỏi sự linh hoạt tối đa trong đo lường, đặc biệt khi cần kết hợp các ưu điểm của phép đo quang học và tiếp xúc:
Công nghiệp Gia công Cơ khí Chính xác:
Chi tiết máy phức tạp: Đo lường các chi tiết có hình dạng 3D phức tạp với các cạnh sắc, lỗ sâu, rãnh hẹp, hoặc các bề mặt không nhìn thấy được bằng quang học. Ví dụ: các bộ phận được gia công bằng CNC, khuôn mẫu, chi tiết trong ngành hàng không.
Kiểm tra các đặc điểm 2D và 3D cùng lúc: Đo các đường kính, khoảng cách bằng quang học và sau đó sử dụng đầu dò tiếp xúc để đo độ đồng tâm của lỗ sâu, độ vuông góc của mặt bên, hoặc các đặc điểm dưới mặt phẳng.
Sản xuất Linh kiện Điện tử và Bán dẫn (hỗ trợ cho cấu trúc 3D phức tạp):
Bảng mạch in (PCB) với các linh kiện lắp ráp phức tạp: Đo kích thước, vị trí của linh kiện trên bề mặt bằng quang học, và sử dụng đầu dò để đo chiều cao, độ phẳng của các điểm tiếp xúc hoặc các chi tiết 3D khác.
Các gói IC hoặc linh kiện có hình dạng không đều: Khi cần đo cả kích thước 2D và độ cao, độ nghiêng của các bề mặt phức tạp.
Công nghiệp Khuôn mẫu:
Kiểm tra các chi tiết trong lòng khuôn, các góc khuất, hoặc các bề mặt có độ bóng cao nơi phép đo quang học có thể bị ảnh hưởng bởi ánh sáng phản xạ.
Công nghiệp Nhựa và Cao su (Đặc biệt chi tiết 3D):
Đo lường các chi tiết nhựa đúc có hình dạng 3D phức tạp, các gân tăng cứng, hoặc các chi tiết cần đo độ dày thành.
Thiết bị Y tế:
Kiểm tra các dụng cụ y tế phức tạp, thiết bị cấy ghép, các bộ phận nhỏ với nhiều góc cạnh, rãnh, hoặc lỗ có yêu cầu độ chính xác cao và cần cả phép đo quang học và tiếp xúc.
Kiểm soát chất lượng (QA/QC) và Phân tích lỗi (Failure Analysis) đa dạng:
Là công cụ đa năng cho các phòng thí nghiệm QC/FA cần kiểm tra nhiều loại sản phẩm khác nhau, từ chi tiết phẳng 2D đến các bộ phận 3D phức tạp.
Giúp phân tích nguyên nhân lỗi chi tiết bằng cách kết hợp thông tin từ cả hai cảm biến.
Nghiên cứu và Phát triển (R&D):
Đánh giá các nguyên mẫu sản phẩm mới với hình dạng phức tạp, nơi cần thu thập dữ liệu 3D toàn diện.
Độ chính xác đo lường (Maximum Permissible Error - MPE):
Độ chính xác XY (EXY,MPE): Thường vào khoảng (1.5+2L/1000)μm (với L là chiều dài đo bằng mm).
Độ chính xác Z (EZ,MPE): Thường vào khoảng (1.5+L/150)μm.
Lưu ý: Các giá trị này có thể thay đổi tùy thuộc vào cấu hình cụ thể của máy, điều kiện môi trường lắp đặt và việc sử dụng đầu dò quang học hay tiếp xúc.
Độ phân giải đọc (Minimum Readout): 0.01 µm.
Hệ thống Zoom quang học: Thường là ống kính zoom quang học 10x hoặc 15x, với nhiều loại đầu zoom khác nhau (tùy chọn) để phù hợp với dải phóng đại và trường nhìn mong muốn.
Hệ thống chiếu sáng:
Episcopic (phản xạ): Đèn vòng LED 8 phân đoạn với 3 góc chiếu khác nhau.
Diascopic (truyền qua): LED trắng.
Lấy nét tự động (Autofocus):
Vision AF (tiêu chuẩn).
TTL Laser AF (tiêu chuẩn hoặc tùy chọn tùy cấu hình).
Tốc độ di chuyển tối đa: XY: 100 mm/s hoặc hơn; Z: 50 mm/s hoặc hơn.
Trọng lượng mẫu tối đa: Khoảng 20 - 30 kg (để đảm bảo độ chính xác).
Nhiệt độ môi trường vận hành:20±1∘C (để đạt được độ chính xác công bố).
Phần mềm: NEXIV AutoMeasure.
Tùy chọn: Đầu dò tiếp xúc Renishaw (TP20, TP200, SP25) hoặc các loại khác tùy cấu hình.